MarSurf 3D GAM
3D共聚焦顯微鏡表面輪廓量測儀

MarSurf CP select3D共聚焦顯微鏡(點掃描)
MarSurf CP select3D共聚焦顯微鏡(點掃描)
MarSurf CP select3D共聚焦顯微鏡(點掃描)
MarSurf CP select3D共聚焦顯微鏡(點掃描)

MAHR

MarSurf CP select
3D共聚焦顯微鏡(點掃描)


可依照表面量測需求選配感測器。
MarSurf CP select是一款功能強大的共聚焦顯微鏡,用於三維測量和分析表面-非接觸且快速。
移動軸和防震系統以及軟體可以單獨選配組合。這使得測量系統可以適應不同的測量需求。
作為多感測器系統,MarSurf CP select還提供了將不同感測器組合到一個測量設備中。根據測量需求,可以靈活選擇最合適的感測器。

產品介紹

MarSurf CP選擇滿足您對自動化與測量準確性的要求–全自動測量解決方案。
 
主要優點:
  • 專為連續量測而設計。
  • 具有工業接口的自動化軟件,可將數據連結到QA系統。
  • 高測量速度–在全分辨率下。
  • 多感測器系統。
  • 內建防撞機制,以保護您的工件和測量系統。
  • 高動態範圍(HDR)功能,16位元。
  • HD拼接可確保大尺寸測量表面的高分辨率。
 
MarSurf光學測量系統已成功用於以下領域:
  • 根據DIN EN ISO 4287/25178進行粗糙度測量。
  • 形貌測量(包括體積,磨損,各向同性)。
  • 微觀幾何形狀和層厚度的測量。
 
用戶將MarSurf CP為可靠的測量系統,該系統可為許多行業提供定量測的可追溯3D特徵。

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