公司簡介 營業項目 產品資訊 技術資料 最新消息 聯絡我們
 
產品品牌分類
STIL
CONTOUR FINE TOOLING
DR. SCHNEIDER
FUJI ELECTRIC
GUILDLINE INSTRUMENT
NOVACAM TECHNOLOGIES
ONO SOKKI
PARR
PHASEVIEW
SOLARTRON METROLOGY
TAEGUTEC
TOKYO KEISO
VAREC
產品功能分類
 

首頁 > 產品資訊

NOVACAM TECHNOLOGIES > 形貌量測儀
NOVACAM TECHNOLOGIES
形貌量測儀
Profilometers
 



MicroCam™
光纖測頭低同調干涉儀:
快速非接觸表面形貌,厚度量測及剖斷面檢查
線上3D,幾何尺寸公差及圖像顯示
細小光纖測頭極適用於維細內孔管壁量測
適用於實驗台及現場惡劣環境如高溫,輻射…等

機型: