公司簡介 營業項目 產品資訊 技術資料 最新消息 聯絡我們
 
產品品牌分類
STIL
CONTOUR FINE TOOLING
DR. SCHNEIDER
FUJI ELECTRIC
GUILDLINE INSTRUMENT
NOVACAM TECHNOLOGIES
ONO SOKKI
PARR
PHASEVIEW
SOLARTRON METROLOGY
TAEGUTEC
TOKYO KEISO
VAREC
產品功能分類
 

首頁 > 產品資訊

PHASEVIEW > 雷射光束檢測儀
PHASEVIEW
BeanWave-500/1000/1500
 

型  號
BeamWave® 500
BeamWave® 1000
BeamWave® 1500
圖  示
 
特  色
光束分析儀工業雷射QC與研究實驗室使用的光分析儀
高解析的波前傳感器
用於靈活的動態範圍的高解析波前傳感器
即時M2測量
光強分佈
光束傳播分析
500×500波前傳感器
光強分佈
光束傳播分析
高端波前分析
>1000×1000波前傳感器
高解析波前
靈活的動態範圍
低與高階像差
>1000×1000波前傳感器
最大光束尺寸
3.2mm
4.8mm
6.4mm
波長範圍
350-1100nm
M2量測
脈衝鐳射&連續型鐳射 (CW)
連續型 (CW)
M2範圍
1 to >50
M2精確度
+/-5%
M2重複性
<2%
波前測量點
500 x 500
1392 x 1040
波前靈敏度
0.005λ (rms)
波前精確度
0.01λ (rms)
波前動態範圍
>1500λ
Up to 1100µm,1800λ
相容軟體
GetWave®,GetLase®
儀器重量
0.35kg
2.5kg
1.15kg
儀器大小
41x55x80(mm)
87x161x84(mm)
114x72x171(mm)
                       
型 錄:BeamWave 500-1000
    BeamWave_1500