MarSurf 3D GAM
3D共聚焦顯微鏡表面輪廓量測儀
MAHR
MarSurf CL select
3D共聚焦顯微鏡(點掃描/線掃描)
光學2D / 3D輪廓。
MarSurf CP和MarSurf CL select光學輪廓儀，用於表面的二維和三維測量和分析-非接觸且快速。
大範圍測量表面，同時又確保高測量精度。
產品介紹
光學2D / 3D輪廓。
MarSurf CP和MarSurf CL select光學輪廓儀，用於表面的二維和三維測量和分析-非接觸且快速。
大範圍測量表面，同時又確保高測量精度。
由於採用模組化設計，因此可以將測量系統調整為適合各種測量需求和單獨的自動化，測量便利性和精度要求。
根據測量需求，可以靈活選擇不同的傳感器。
移動軸系統和軟體可以單獨組合。
MarSurf CP和CL選擇 滿足您對自動化，測量準確性的要求–滿足全自動測量解決方案。
- 大範圍3D測量。
- 極高的測量速度。
- 透過自動化軟體進行與串行測量。
- 出色的側面可接受性。
- 層厚度測量和透明材料的測量。
- 高度測量範圍大，工作距離大。
- 堅固可靠。
MarSurf光學測量系統已成功用於以下領域：
- 根據DIN EN ISO 4287/25178進行粗糙度測量。
- 形貌測量（包括體積，磨損，各向同性）。
- 微觀幾何形狀和層厚度的測量。
用戶將MarSurf CL為可靠的測量系統，該系統可為許多行業提供定量測的可追溯3D特徵。
