MarSurf 3D GAM
3D共聚焦顯微鏡表面輪廓量測儀
MAHR
MarSurf CM explorer
3D白光共軛焦表面輪廓量測儀
靈活，全面的測量解決方案。
MarSurf CM Explorer是一款共聚焦顯微鏡，可對表面進行三維測量和分析-非接觸。
產品介紹
主要優點：
- 高測量速度–即使在全分辨率下。
- 內建防撞機制，以保護您的工件和測量系統。
- 高動態範圍（HDR）功能，16位元。
- HD拼接可確保大尺寸測量表面的高分辨率。
MarSurf光學測量系統已成功用於以下領域：
- 根據DIN EN ISO 4287/25178進行粗糙度測量。
- 形貌測量（包括體積，磨損，平坦度）。
- 微觀幾何形狀和層厚度的測量。
用戶將MarSurf CM為可靠的測量系統，該系統可為許多行業提供定量測的可追溯3D特徵。
